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用于動(dòng)力學(xué)監(jiān)控的原位納米粒度測量技術(shù)

發(fā)表時(shí)間:2020/3/30      點(diǎn)擊次數(shù):1638

本文介紹了用于原位納米粒度分析的遠(yuǎn)程光纖探頭技術(shù)VASCO KinTM。由法國技術(shù)公司(CORDOUAN Technologies)開發(fā)的VASCO KinTM是一款功能的納米粒度分析儀,它利用的單模光纖技術(shù)將DLS測量導(dǎo)入到你的過程監(jiān)控。創(chuàng)新的光纖遠(yuǎn)程探頭(下文介紹其原理)使VASCO Kin能夠非常簡單地結(jié)合到你現(xiàn)有的實(shí)驗(yàn)裝置上(如合成反應(yīng)器或小角X光散射SAXS系統(tǒng)),給用戶提供了大的測量靈活性,以監(jiān)測和改進(jìn)其工藝過程的顆粒粒度隨時(shí)間或反應(yīng)條件的變化。

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